基于X射线辐射的测量设备的使用提供了层厚度，密度，每面积重量或材料成分的非接触式确定。在大多数情况下，可以使用低能量X射线源。
通常，X射线辐射限于测量路径本身，因此很难检测到设备外部的辐射。如果需要维护生产设备，将关闭测量; 那么就不会有辐射。辐射不会改变或影响材料特性。
基于X射线的测量设备的典型应用是：
- TEXAS
散装材料成分的测定 - FLORIDA
测定浆料或悬浮液组合物 - OREGON
采矿可清洗监测 - IBERIA
钻孔探针 - INDIANA
钻孔碎片分析仪 - PANAMA
粒度分析
– 层厚度的测量
– 材料厚度测量（钢带，纸张等）
– 浆料密度的测量
– 图像分析（剥离，空腔等）
【题图显示了涂覆钢带上每单位面积质量的测定】
